Le rendement énergétique global des systèmes de production d’énergie solaire Panasonic HIT ne se dégrade pas, même quand le système fonctionne avec un haut voltage. Les modules solaires HIT ont ainsi été distingués lors d’une nouvelle étude. Le Fraunhofer Center for Silicon-Photovoltaics (CSP), basé en Allemagne, a confirmé la résistance des modules à la dégradation induite par le potentiel (PID). La dégradation induite par le potentiel est un phénomène au cours duquel la puissance d’un module photovoltaïque est réduite alors qu’il est soumis à des facteurs externes tels qu’une haute température, un fort taux d’humidité et lorsqu’une tension élevée est appliquée entre les circuits internes (cellules photovoltaïques) et la structure de fixation reliée à la terre.
Les modules photovoltaïques HIT sont reconnus pour leur performance.
Grâce à la technologie exclusive HIT, qui repose sur une fine couche de silicium monocristallin de type n, entourée de part et d’autre de couches de silicium amorphes ultrafines, les modules sont incroyablement performants. En comparaison avec les panneaux photovoltaïques classiques à base de silicium cristallin, le fait que la couche isolante de la surface cellulaire puisse se charger en électricité est considéré comme une cause directe de PID. Cependant, lorsqu’il s’agit de cellules photovoltaïques HIT, les deux surfaces sont des couches conductrices transparentes : il n’y a pas d’utilisation de couches isolantes. Par conséquent, aucune PID n’est supposée se produire. Aucun cas de PID n’a été signalé sur les marchés européen, américain ou japonais sur des panneaux solaires HIT.
En collaboration avec le Fraunhofer CSP, Michaël Seys, Responsable du développement produit photovoltaïque de Panasonic, a réalisé un test qui met en Å“uvre à la fois un voltage positif et négatif. Pendant la série de tests, les modules HIT ont été soumis à 1 000 volts pendant 48h à une température de 50°C et une humidité relative de 50%. Les modules solaires Panasonic HIT n’ont montré aucun signe de dégradation sous ces conditions. Des dix modules utilisés pour les séries de tests, cinq modules ont été soumis à +1 000 volts et cinq modules à -1 000 volts. Les résultats obtenus n’ont montré aucun signe de PID. Le docteur Matthias Ebert, Responsable du Groupe Fiabilité des Modules à Fraunhofer CSP, a commenté les résultats du test : « Les modules HIT diffèrent des modules standards du fait de leur couche supérieure chargée négativement. Notre challenge a été de développer une méthode de test qui prenne cela en compte. En testant à la fois des voltages positifs et négatifs, nous pouvons attester de la résistance au PID des modules solaires HIT. »
Plus d’infos…
