Les modules HPBC 2.0 de LONGi sont les premiers à recevoir la certification TÜV SÜD pour la résistance PID-p

Les modules de contact arrière HPBC 2.0 de LONGi, Hi-MO 9 pour les utilities et Hi-MO X10 pour les secteurs résidentiels et C&I, sont devenus les premiers de l’industrie à recevoir la certification TÃœV SÃœD pour la résistance à la dégradation induite par le potentiel – polarisation (PID-p), conformément aux normes PPP 58234A :2025 et IEC TS 62804-1 Ed2 (DTS). 

Le PID-p représente un problème de fiabilité émergent dans les modules photovoltaïques avancés. Il se produit lorsque le champ électrique généré par la tension du système provoque des effets de polarisation dans la couche de passivation des cellules de silicium, entraînant des pertes de puissance réversibles. Contrairement aux PID-s (Potential Induced Degradation – Shunting) classiques, qui entraînent des dommages plus permanents, les PID-p se développent plus rapidement mais permettent une récupération des performances grâce à l’exposition à la lumière, en particulier aux rayons ultraviolets. L’importance croissante du PID-p a attiré de plus en plus l’attention des organismes de normalisation technique tels que la CEI et des instituts de recherche tels que le NREL.

Test réussi de la durabilité du module sous contrainte de polarisation

Le processus d’essai de TÃœV SÃœD simule des conditions de stress réelles en combinant la tension, la température et l’exposition à la lumière pour évaluer la durabilité du module sous contrainte de polarisation. Le Hi-MO 9 et le Hi-MO X10 ont tous deux réussi ces tests avec d’excellents résultats, confirmant leur résistance robuste au PID-p dans des environnements opérationnels exigeants. En obtenant la certification PID-p de TÃœV SÃœD, LONGi souligne son leadership dans la lutte contre les mécanismes de dégradation à long terme dans les modules à haut rendement. Cette réalisation reflète la maturité de son architecture HPBC 2.0 et son engagement en faveur de la fiabilité et des gains d’efficacité.